X-Işını Fotoelektron Spektrometresi
X-Işını Fotoelektron Spektrometresi
PHI 5000 VersaProbe III Tarama ESCA Mikroskobu
- AUGER tarama (< 100 nm), SEM/SXI, elementel bileşim ve kimyasal haritalama
- Yüksek/düşük sıcaklık (-140°C ile 600°C arasında) aşamaları
- Isıtma örnek tutucu (800°C'ye kadar)
- İstenilen bileşime sahip gaz karışımlarının akışı altında yüksek basınç reaktörü (hazırlık kolunda)
- Gaz reaktörü, 1 bar'da statik modda veya vakum altında 800°C'ye kadar ısıtma yapan ve maksimum 2 bar basınçla sürekli gaz akışı altında 500°C'ye kadar ısıtma yapan H/C plakasına sahiptir.
Sistem Bileşenleri
- Besleme bloğu: Kütle akış kontrol cihazları (MFC), örnekleme vanaları ve transfer hatları
- XPS: PHI 5000 VersaProbe III Tarama ESCA Mikroskobu
- Analiz bloğu: Kütle spektrometresi ve anahtar manifold
- Analiz Modu: In situ/semi-operando
Analiz Örnekleri
- Katalizörlerin, adsorbanların, desteklerin ve malzemelerin metalik aktif bölgelerinin elektronik özelliklerinin/oksidasyon seviyelerinin belirlenmesi
- Malzemelerin yüzeydeki yoğunluklarının belirlenmesi; malzeme/partikülün yüzeyi boyunca ve içine doğru yoğunluk değişikliklerin incelenmesi (derinlik profillemesi)
Parametrik Kullanım Durumları
- Metalik aktif bölgelerin, destek malzemelerinin ve katı malzemelerin in situ ön işlem (kalsinasyon, indirgeme) ve spesifik gaz fazı reaksiyonları sırasında gerçekleşen elektronik özelliklerindeki/oksidasyon durumlarındaki değişikliklerin incelenmesi
- Katalizörün aktif metalik bölgelerindeki elektronik özelliklerindeki/oksidasyon durumlarındaki değişikliklerin performans (aktivite, seçicilik) üzerindeki etkilerinin yarı-operando olarak incelenmesi; yapı-performans ilişkisinin kurulması
