FTIR Görüntüleme Mikroskobu
LUMOS II
FTIR Görüntüleme Mikroskobu
Yüksek hassasiyetli TE-MCT dedektörü ile donatılmıştır. ATR, iletim ve yansıma modlarında FTIR görüntüleme gerçekleştirebilir. 40 mm'ye kadar kalınlığa sahip örnekleri rahatça işleyebilir ve 4 cm⁻¹ spektral çözünürlükle saniyede 550'den fazla spektrum elde edebilir.
Analiz Örneği
- Polimer malzemelerinin tanımlanması ve karakterizasyonu, polimer karışımlarının belirlenmesi ve katkı maddeleri veya kirleticilerin tespiti.
- İlaç bileşiklerinin analizi, uygun formülasyonun sağlanması, kirleticilerin tespiti ve aktif farmasötik bileşenlerin (API'ler) kimyasal bileşiminin doğrulanması.
- Kriminal soruşturmalar ve yasal işlemleri desteklemek amacıyla iz kalıntılarının (iplikler, boyalar ve kalıntılar gibi) incelenmesi.
- Kaplamaların, filmlerin ve yüzey işlemlerinin analizi, bileşimlerinin, homojenliklerinin ve yapışma özelliklerinin değerlendirilmesi.
- Otomotiv parçaları ve malzemelerinin analizi, polimerlerin, kompozitlerin ve yüzey kirleticilerinin tanımlanması.
- Elektronik bileşenlerin karakterizasyonu, yarı iletkenlerde, baskılı devre kartlarında ve diğer elektronik cihazlarda kullanılan malzemelerin tanımlanması.
- Minerallerin tanımlanması ve jeolojik örneklerin karakterizasyonu, bileşimlerinin ve oluşum süreçlerinin anlaşılması.
