ANALİZLERİMİZ

NUMUNE HAZIRLIK

• İstenilen Parçacık Boyutunda Granüler Katalizör Destek Malzemesi Hazırlığı*
• Ko-Preipsitasyon Yöntemi ile Katalizör Destek Malzemesi Hazırlığı*
• Metal(ler)in Islak/Kuru Impregnasyon ile Eklenmesi*
• Atmosferik Koşullarda 110°C’ye Kadar Kurutma
• Vakum Ovasında 200°C’ye Kadar Vakum Altında Kurutma
• Dondurarak Kurutma (Lyofilizör) ile -50°C’ye Kadar Kurutma
• Rotasyonel Buharlaşan Cihazla (Rotary Evaporator) Kurutma
• Atmosferik Koşullarda (Hava Altında) 1800°C’ye Kadar Kalsinasyon
• N₂ (Inert) Akışı Altında 1200°C’ye Kadar Kalsinasyon*

*Not: Müşteri Tarafından Tanımlanan Metodoloji/Koşullara Göre

EDXRF

• Toz Numunelerinin Elemental Analizi
• Sıvı Numunelerinin Elemental Analizi
• Katı Numunelerinin Elemental Analizi (40 mm Çapında)

TSA-TPV-PVD-PSD ANALİZ SİSTEMİ

Aşağıdakilerin Belirlenmesi:

• Toplam Yüzey Alanı
• Toplam Gözenek Hacmi ve Gözeneklilik
• Mikro-, Meso-, Makro- Gözenek Hacmi
• Gözenek Boyut Dağılımı
• Metal Dağılımının H₂ Chemisorpsiyonu ile Belirlenmesi

CATLAB

• Sıcaklık Programlı Yüzey Grupları Ayrışması (TPSGD) Analizi (900°C’ye kadar)
• Sıcaklık Programlı Redüksiyon (TPR) Analizi (900°C’ye kadar)
• Sıcaklık Programlı Oksidasyon (TPO) Analizi (900°C’ye kadar)
• Toz Katalizörler İçin Mikro-Reaktör Uygulamaları
• Metal Dağılımının (CO veya H₂ Chemisorpsiyonu ile) Belirlenmesi
• Deneysel Tasarım ile Belirlenen Koşullarda Geçici Kinetik Analizler

DİNAMİK CO ADSORPSİYON SİSTEMİ

• In situ Kalsinasyon ve Redüksiyon (1100°C’ye kadar)
• CO Adsorpsiyonu Kullanılarak Metal Dağılımının Belirlenmesi

FTIR-DRIFTS-MS

• FTIR Spektrum Elde Edilmesi:
  
  • Oda Sıcaklığında
  • 450°C’ye kadar Sıcaklıklarda* Inert Akış Altında
• Operando FTIR-DRIFTS-MS Kombine Analizleri, Numune Yüzeyindeki Adsorblanan Türlerde Meydana Gelen Değişikliklerin ve Reaksiyon Sırasında Aktivite/Seçiciliğin, Sıcaklık ve Besleme Bileşimi Değişimlerine Yanıt Olarak Belirlenmesi (450°C’ye kadar)*
  
  • *Not: Sıcaklık Limiti, Numunenin Renk/kararmasına Bağlıdır
• Reaksiyonun Mekanistik Özelliklerinin Operando Analizi
• [1] Kullanılarak Hız Kısıtlayıcı Adımın Belirlenmesi, Deneysel Tasarıma Göre Koşullar Altında
• Oksidasyon/Redüksiyon (TPO & TPR) Sırasında Operando FTIR-DRIFTS-MS Kombine Analizleri (450°C’ye kadar)*
  
  • *Not: Sıcaklık Limiti, Numunenin Renk/kararmasına Bağlıdır

FTIR İMAGELEME MİKROSKOPU

• FTIR Görüntüleme:

  • Oda Sıcaklığında
  • Sıvı Numuneler
  • Katı Numuneler ve İnce Filmler (40 mm yüksekliğe kadar)

• Uygulamalar:

  • Partikül Tanımlama
  • Temel Neden ve Arıza Analizi
  • Ürün Kalite Kontrolü
  • Ürün Geliştirme
  • Yüzey İncelemeleri

IGA-MS

• Statik Toplam Adsorpsiyon-Desorpsiyon İzoterm Elde Edilmesi;
  
  • 0-1,000 mbar, 100 mbar adımlarla
  • 0-10,000 mbar, 500 mbar adımlarla
  • Tek Gaz
  • Önceden Belirlenmiş Bileşimde Islak veya Kuru Çoklu Gaz Karışımları
• Dinamik Toplam Adsorpsiyon-Desorpsiyon İzoterm Elde Edilmesi;
  
  • 0-1,000 mbar, 100 mbar adımlarla
  • 0-10,000 mbar, 500 mbar adımlarla
  • Tek Gaz
  • Önceden Belirlenmiş Bileşimde Islak veya Kuru Çoklu Gaz Karışımları
• Adsorbanların Seçici Adsorpsiyon Kapasitesinin Belirlenmesi
  
  • Kuru/Islak Çoklu Gaz Karışımlarından (P: 0-5000 mbar) Adsorpsiyon
• Katalizörlerin Etkin Oksijen Depolama Kapasitesinin Belirlenmesi
  
  • Kuru/Islak Reaksiyon Karışımları Akışında

XRD-MS

• Standart Toz X-Işını Difraksiyon Deseni
• Kalitatif Mineral Analizi
• Sıcaklık Bağımlı Toz X-Işını Difraksiyon Deseni (900°C’ye kadar)
• Sıcaklık Programlı In-situ Oksidasyon & X-Işını Difraksiyon Desenleri
• Sıcaklık Programlı In-situ Redüksiyon & X-Işını Difraksiyon Desenleri
• Reaksiyon Koşullarında Toz X-Işını Difraksiyon Deseni
• Operando Kombine Reaktör-XRD-MS Analizleri
  
  • Numunede Meydana Gelen Değişikliklerin ve O₂/H₂ Tüketim Profillerinin Belirlenmesi
  • Sıcaklık Programlı Kalsinasyon/Redüksiyon Sürecinde
• Operando Kombine Reaktör-XRD-MS Analizleri
  
  • Numune Üzerindeki Değişikliklerin ve Aktivite/Seçiciliğin Belirlenmesi
  • Sıcaklık ve Besleme Bileşimi (kuru) Değişimlerine Yanıt Olarak

XPS-MS

• Standart Nokta Analizi - Genel Spektrum Elde Edilmesi
• Standart Nokta Analizi - Elemental Spektrum Elde Edilmesi
• Standart Derinlik Profil Analizi
• Standart Çizgi Analizi
• Standart Alan Analizi - Harita Çıkartma
• Auger Spektroskopisi ile Nokta Analizi
• Auger Spektroskopisi ile Derinlik Profil Analizi
• Auger Spektroskopisi ile Çizgi Analizi
• Auger Spektroskopisi ile Alan Analizi - Harita Çıkartma
• In-situ Kombine Seri Reaktör-UHV Odası (XPS, Auger, SEM/SXI) Analizleri
  
  • Termal İşleme Yanıt Olarak Numunede Meydana Gelen Değişikliklerin Belirlenmesi (Önceden Belirlenen Sıcaklık Seviyelerinde Inert Atmosfer Altında)
• Semi-operando Seri Kombine Reaktör-MS-XPS/Auger/SEM/SXI Analizleri
  
  • Oksidasyon (TPO) & Redüksiyon (TPR) Sırasında Numunede Meydana Gelen Değişikliklerin Belirlenmesi
• Semi-operando Seri Kombine Reaktör-MS-XPS/Auger/SEM/SXI Analizleri
  
  • Numune Üzerindeki Değişikliklerin ve Aktivite/Seçiciliğin Belirlenmesi
  • Sıcaklık ve Besleme Bileşimi (kuru) Değişimlerine Yanıt Olarak
• Yukarıda Belirtilen Testlerde Elde Edilen Elemental Spektrumların Deconvülasyonu
• Nokta Analizi İçin Yüzey Bileşimi Yüzdesinin Hesaplanması

OTOMATİK GAZ PİKNOMETRESİ

Aşağıdaki Alanlarda Hassas Hacim Ölçümleri ve Gerçek Yoğunluk Hesaplamaları:

• Katalizörler
• Toz Metalurjisi
• Refrakter Malzemeler
• Kalsine Petrol Kokları
• Toprak
• Toz Kaplamalar
• Şeffaf veya Pigmentli Kaplamalar
• Sert Hücresel Plastik
• İlaçlar

BTA-MS

• Dinamik Toplam Adsorpsiyon-Desorpsiyon Breakthrough Eğrisi Elde Edilmesi:
  
  • In-situ Numune Hazırlığıyla
  • 1-30 bar
  • Tek gaz
  • Islak veya kuru çoklu gaz karışımları
• Hem Tekli Hem de Çok Bileşenli Adsorpsiyonlar İçin Breakthrough Eğrisi Analizi
• Breakthrough Eğrisi ile Adsorpsiyon Kapasitelerinin Belirlenmesi
• Çok Bileşenli Gaz Adsorpsiyonları İçin Adsorpsiyon Seçiciliğinin Belirlenmesi
  
  • Tercihli veya Rekabetçi Adsorpsiyon Özelliklerinin Değerlendirilmesi